Mgr inż. Rafał Palak i dr inż. Krystian Wojtkiewicz z Katedry Informatyki Stosowanej, w niekonwencjonalny sposób zmierzyli się z problemem pomiaru centralizacji w grafach. Za swoją pracę zostali wyróżnieni na prestiżowej międzynarodowej konferencji IEA/AIE 2020 (33th International Conference on Industrial, Engineering & Other Applications of Applied Intelligent Systems) zdobywając nagrodę Best Poster Paper. Gratulujemy!